物理検層のなかで、地層の電気物性である比抵抗を測定する検層の総称である。
電気検層の一つであり、電気検層と同義に使用される場合が多い。電気検層にSP検層（自然電位検層）が含まれる。比抵抗検層は、通常導電性のある液体（泥水）で満たされた坑井内で、地層に一定電流を流すことによって地層の比抵抗を測定する検層をいう。比抵抗検層にはノルマル検層（ノルマル曲線）、ラテラル検層（ラテラル曲線）、インダクション検層、ラテロ検層、マイクロ比抵抗検層がある。これらは測定方式、坑壁からの探査深度が異なり、地層の真の比抵抗、泥水の影響を受けた地層の比抵抗、薄層の検出など、それぞれの目的に応じて使い分けている。地層の真の比抵抗を測定するのに適した探査深度の深いものには、インダクション検層（ILd）、ラテロ検層のラテロログ-7、デュアルラテロ検層のラテロディープ（LLd）などがある。また泥水の浸入によって地層水が置換された部分（invaded zone、インベージョン）の比抵抗を測定するのに適した探査深度の浅いものには、各種のマイクロ比抵抗検層、デュアルラテロ検層のラテロシャロー（LLs）、ラテロ検層の中のラテロログ-8（LL8）、スフェリカリーフォーカスド検層（Spherically Focused Log：SFL*）などがある。
*：Schlumberger社の商標

（齋藤　克栄、2008 年 2月）